




簡(jiǎn)要描述:DZ-1超聲波探傷標(biāo)準(zhǔn)試塊DZ-I試塊適用于與DB-P試塊配合使用測(cè)試直探頭的盲區(qū)。DZ-I試塊適用于與DB-P試塊配合使用測(cè)試直探頭的盲區(qū)。
產(chǎn)品型號(hào):
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間:2025-05-26
訪  問  量:2718DZ-I試塊適用于與DB-P試塊配合使用測(cè)試直探頭的盲區(qū)。

DZ-I試塊適用于與DB-P試塊配合使用測(cè)試直探頭的盲區(qū)。
DZ-I試塊適用于與DB-P試塊配合使用測(cè)試直探頭的盲區(qū)。
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